测试服务——晶体分析
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扫描探针显微镜 （Mulitimode IIIa）
性能指标及服务内容
具有原子级的超高分辨率，理论横向分辨率可达0.1nm，纵向分辨率达0.01nm。可获得物质表面的原子晶格图像；可以实时获得样品表面的实空间三维图像，既适用于具有周期结构的表面，又适用于非周期性表面结构的检测；可以观察到单个原子层的局部表面性质，可以在大气、常温、常压下工作，甚至可以将样品浸在液体中，不需要特殊制备技术。
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X射线粉末衍射仪（D/max2550V/PC）
性能指标及服务内容
广泛应用于材料结构分析的各个领域，可以分析的材料包括金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料等；可以分析的材料状态包括粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品等。主要的应用包括粉末样品的物相定性与定量分析；计算结晶化度、晶粒大小；确定晶系、晶粒大小与畸变；Rietveld结构分析；薄膜样品的物相分析；结构分析；应力分析；纳米材料粒径分布等。
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